鏡片反射率測定儀

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產品名稱: 鏡片反射率測定儀

產品型號: USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀

產品展商: 奧林巴斯

產品文檔: 無相關文檔

簡單介紹

近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W 可以高速&高精細地進行可視光區域至近紅外區域的大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區域、曲面的反射率，因此*適用于光學元件與微小的電子部件等產品。

鏡片反射率測定儀 的詳細介紹

奧林巴斯的USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀可以高速&高精細地進行可視光區域至近紅外區域的大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區域、曲面的反射率，因此*適用于光學元件與微小的電子部件等產品。
實的測定功能
使用一臺即可進行反射率、膜厚、物體顏色、透過率、入射角45度反射率的各種分光測定。

◆測定反射率
測定以物鏡聚光φ17～70μm的微小點的反射率。

◆測定膜厚
活用反射率數據，測定約50nm～約10μm的單層膜、多層膜的膜厚。

◆測定物體顏色
根據反射率數據顯示XY色度圖、L*a*b色度圖及相關數值。

◆測定透過率
從受臺下部透過φ2mm的平行光，測定平面樣品的透過率。（選配）

◆測定入射角為45度的反射率
從側面向45度面反射φ2mm的平行光，測定其反射率。（選配）

域的高精度&高速測定

◆實現高速測定
使用平面光柵及線傳感器進行全波長同時分光測定，從而實現高速測定。

◆*適用于測定細小部件、鏡片的反射率
新設計了可以在φ17~70μm的測定區域中進行非接觸測定的專用物鏡。通常的分光光度計不能進行測定的細小電子部件或鏡片等的曲面，也可以實現再現性很高的測定。

◆測定反射率時，不需要背面防反射處理
將專用物鏡與環形照明組合，不需要進行被檢測物背面的防反射處理，就可測定*薄0.2mm的反射率*。

◆可選擇的膜厚測定方法

根據測定的分光反射率數據進行單層膜或多層膜的膜厚解析。可以根據用途選擇*佳的測定方法。

近紅外顯微分光測定儀　USPM-RU-W：規格
	反射率測定			透過率測定*1	45度反射測定*1
名稱	近紅外顯微分光測定儀			近紅外顯微分光測定儀用透過測定選配件	近紅外顯微分光測定儀用 45度反射測定選配件
型號	USPM-RU-W
測定波長	380～1050nm
測定方法	對參照樣品的比較測定			對100%基準的透過率測定	對參照樣品的比較測定
測定范圍	參照下列對物鏡的規格			約?2.0mm
測定再現性（3σ）*2	反射率測定	使用10×、20×物鏡時	±0.02[%]以下（430-1010nm）、 ±0.2[%]以下（上述以外）	±1.25[%]以下（430-1010nm）、 ±5.0[%]以下（左側記載除外）
		使用40×物鏡時	±0.05[%]以下（430-950nm）、 ±0.5[%]以下（上述以外）
	厚膜測定	±1%		-
波長顯示分解能	1nm
照明附件	專用鹵素燈光源　 JC12V 55W（平均壽命700h）
位移受臺	承載面尺寸：200(W)×200(D)mm　　承重：3 kg 工作范圍：(XY) ±40mm, (Z)125mm
傾斜受臺	－			承載面尺寸：　140(W)×140(D)mm 承重：　1 kg 工作范圍：(XT) ±1°, (YT) ±1°
裝置質量	主體：約26 kg（PC除外）			主體：約31 kg（PC除外）*3
	控制電源箱：約6.7kg
裝置尺寸	主體部位：360(W)×446(D)×606(H)mm			主體部位：360(W)×631(D)×606(H)mm
	控制電源箱：250(W)×270(D)×125(H)mm
電源規格	輸入規格：100-240V (110VA) 50/60Hz
使用環境	水平無振動的場所溫度：15～30℃ 濕度：15～60％RH（無結露）

*1 選件組件　*2 本社測定條件下的測定　*3 裝配透過率測定套件與45度反射測定套件的總重量為33kg。

對物鏡
型號	USPM-OBL10X	USPM-OBL20X	USPM-OBL40X
倍率	10x	20x	40x
NA	0.12	0.24	0.24
測定范圍*4	70μm	34μm	17μm
工作距離	14.3mm	4.2mm	2.2mm
樣品的曲率半徑	±5mm～	±1mm～	±1mm～

*4 點徑

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